Схема надає можливість автоматичного, безпосереднього і грунтовного тестування логічних елементів малого ступеня інтеграції, інверсних тригерних схем і т. д. А також лічильників середнього рівня інтеграції, регістрів-клямок, регістрів зсуву і т. д. Схема посилає вхідні дані для випробовуваного приладу (DUT – Device Under Test) по 9 проводам і отримує дані по 6 проводам. Коли перемикач “TEST SWITCH” замкнутий і знаходиться в нижньому за схемою положенні, двійковий лічильник IC7-1С8, який включає вхідні дроти випробовується приладу, повертається в початковий стан і спрацьовує тригер, який включає світлодіод “GO / NO GO” (Працює / Не працює). Після повернення перемикача “TEST SWITCH” у вихідне верхнє за схемою положення запускається лічильник за всіма 256 вхідним станам. Під час підрахунку дані в проводах виходу будуть порівнюватися з даними запам’ятовуючого пристрою на мікросхемах IC9-1С 14. Якщо зустрічається невідповідність, то тригер “GO / NO GO” скидається на цьому місці лічильника, вхід скидання тригера тактового генератора встановлюється на низький рівень і наступний підрахунок пригнічується до тих пір, поки знову не буде натиснуто перемикач “TEST SWITCH”. Якщо світлодіод “GO / NO GO “продовжує світитися, то деталь витримала тест. Для програмування перемикач” PROGRAM SWITCH “повинен бути натиснутий під час тестування свідомо хорошого приладу.

Файл: 4.jpg