За допомогою тестера можна випробовувати звичайні біполярні, польові транзистори, МОП-транзистори і пари Дарлінгтона. Звук з частотою між 1000 і 5000 Гц, друкований з зовнішнього приєднуваного динаміка, показує, що випробовуваний транзистор функціонує як генератор і підсилювач, а також дає відносне вказівку на його коефіцієнт підсилення і шуму. У схемі можуть випробовуватися різні прилади. У схожих між собою польових (JFET) або МОП-транзисторів (MOSFET) мається самий незначний шум, який дає в підсумку найнижчу частоту звуку. Для схожих деталей будь-якого виду прилад, що має більше посилення, виробляє гучніший звук. Тестер використовує 2 трансформатори для підтримки генерації низькочастотного сигналу, якщо висновки тестованого приладу підключені правильно. Перемикач S1 подає позитивне або негативна напруга до трансформаторів та тестованим виробам. Конденсатори СЗ і С4 повинні бути неполярними електролітичними конденсаторами, оскільки на резистори R1 і R2 подається позитивна або негативна напруга в залежності від випробовуваного пристрою. Трансформатори Т1 і Т2 мають опір первинної обмотки 1200 0м і опір вторинної обмотки 8 0м (Calectro DI-724). Потрібно враховувати, що звуки частотою більше 10 кГц означають, що тестована деталь має незначне посилення, тобто не відповідає технічній документації або приєднане помилково. У МОН-транзистора як витік, так і підкладка з’єднуються з висновком витоку.

Файл: 9.jpg