В. Д. Фролов *, С. М. Пименов, В. І. Конов Інститут загальної фізики РАН 119991, Москва, вул. Вавилова 38 * E-mail: frolov@ran.gpi.ru В. І. Кузькін Інститут нанотехнології 105184 Москва, Б. Татарська вул., 38 Анотація Методами скануючої тунельної мікроскопії / спектроскопії (СТМ / СТС) проведено дослідження електронних властивостей вуглецевих наночасток. Наночастки холмообразние нанооб’єктів сформовані з різними […]