В. Д. Фролов *, С. М. Пименов, В. І. Конов Інститут загальної фізики РАН 119991, Москва, вул. Вавилова 38 * E-mail: frolov@ran.gpi.ru В. І. Кузькін Інститут нанотехнології 105184 Москва, Б. Татарська вул., 38 Анотація Методами скануючої тунельної мікроскопії / спектроскопії (СТМ / СТС) проведено дослідження електронних властивостей вуглецевих наночасток. Наночастки холмообразние нанооб’єктів сформовані з різними […]

Алексєєв Г. А., Стулова Л. В. Інститут радіофізики та електроніки ім. А. Я. Усикова НАН України Вул. Ак. Проскури, д. 12, Харків – 61085, Україна Тел.: (38-057) 7448398; e-mail: milv@ire.kharkov.ua Рис. 2. Залежності ic max//co від величини