Сучасний стан мікроелектроніки характеризується неухильним підвищенням складності та вартості розробки інтегральних мікросхем (ІМС), зниженням їх «часу життя». Умови гострої конкуренції на цьому стрімко розвивається ринку диктують необхідність скорочення термінів проектування і виробничого освоєння нових виробів.

Блок-схема алгоритму реалізації власного комплексного підходу [106] до вирішення завдання статистичного аналізу в процесі наскрізного проектування виробів мікроелектроніки від етапу проектування технологічного процесу до проектування системи представлена ​​на рис. 5.3. Вихідні характеристики (результати апроксимації) кожного попереднього етапу є вхідними параметрами для подальшого етапу проектування.