Застосовуючи представлену схему характеріографа, немає необхідності виймати компоненти зі схеми, один за іншим, з метою їх тестування. Напруги і струми, які використовуються при тестуванні, досить малі майже для всіх зібраних на напівпровідниках схем. Компоненти можуть випробовуватися на короткі замикання і обриви. Пристрій за допомогою підключається осцилографа дозволяє наочно тестувати переходи транзисторів і діодів в прямому […]